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芯片柔性分选智能工作站——多测试场景应用
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对接ATE测试设备+Thermal(热流仪)
应用于芯片量产 burn-in test
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应用于芯片简易burn-in test
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半导体行业客户案例
Semiconductor Industry Customer Cases
芯片柔性分选智能工作站 —— 多测试场景应用
对接SLT测试设备
服务客户: 1、世界顶级芯片集团——美国总部。
客户痛点:
价值输出:
痛点解决:
· 产品上线速度加快,测试成本明显降低; · 减少工程师在高噪音环境下工时,加班/夜班人员明显减少; · 集团内部合作效率明显提升,管理能力提高。
· 本工作站可快速适应多品种、小批量的芯片检测; · 10分钟完成芯片切换; · 30分钟完成芯片新增; · 可对接现场各种测试机台&冷热冲击设备; · 可操作多种Socket开关盖; · 记录操作过程,报告输出完整; · 支持远程操作。
· 测试芯片品种多、批量小,更换频繁,handler(分选机)无法 快速适应测试测试需求,只能依赖人工执行SLT测试; · 可操作行多种Socket开关盖; · 国内、外团队配合无法远程操作; · 要求全程可追溯,报告完整导出。
对接ATE测试机
对接ATE测试机+热流罩
对接量产老化测试机
对接SLT测试机
对接简易老化测试
对接多台ATE测试机和多台热流罩
上海摩马智能科技有限公司
MOOMA AI Technology (Shanghai) Co.,Ltd
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芯片柔性分选智能工作站
——多测试场景应用
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IC handler、test handler、ATE handler、芯片SLT测试机、IC ATE测试机、芯片老化测试机、IC burn in 测试设备、芯片老化测试炉、burn-in test、工业机器人上下料、机械臂上下料、柔性上下料机器人、柔性上下料、柔性自动化
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