半导体行业客户案例
Semiconductor Industry Customer Cases
芯片柔性分选智能工作站 —— 老化测试
应用于芯片量产 burn-in test (老化测试)上下料
服务客户: 1、车规级芯片——第三方测试企业; 2、芯片老化测试设备——OEM企业; 3、全球最大——芯片封测集团。
客户痛点:
价值输出:
痛点解决:
· 更严谨的作业流程,帮助客户提升市场竞争力,获客能力,销售能力,满足客户需求; · 提升测试自动化率与测试效率,降低人工成本; · 降低客户内部管理成本,提升管理能力,管理效率。
· 本工作站可执行不同种类Socket开关动作; · 满足不同封装种类、规格大小芯片的作业需求; · 可快速适应多品种、小批量芯片的检测作业; · 10分钟完成不同类型芯片切换部署; · 2小时完成新增类型芯片的上线工作; · 全程操作可追溯管理,支持报告输出。
· 车规级芯片种类繁多。芯片行业内的handler(分选机)无法快适用  多种类型Socket开关盖,无法满足多品种芯片测试需求。目前只能依  赖人工执行不同类型的芯片老化测试的上下料工作; · 人工执行芯片上下料不仅作业效率低,失误率高,且存在恶  意操作风险; · 人工作业数据依赖人工手动录入,无法追溯管理。
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